產品簡介：
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是一款強大的粒度與Zeta電位分析儀。
詳細說明：
Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術進行了完美結合，突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，最高可達50%wt；硬件PALS技術（與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應用，解決了長期以來無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統方法沒有足夠的分辨率進行測量）的樣品進行分析的難題。
NanoBrook產品系列
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項目
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173
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173Plus
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Omni
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ZetaPALS
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功
能
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粒度測量功能
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●
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●
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●
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○
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分子量測量功能
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●
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●
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●
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○
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Zeta電位測量功能
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○
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○
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●
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●
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技
術
參
數
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散射角
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15°與173°
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15°、90°與173°
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○
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粒度范圍
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0.3nm-15μm
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○
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分子量測定范圍
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342～2×107Dalton
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○
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相關器
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4×1011個線性通道，可擴展互相關測量 最小通道時間25ns，可擴展互相關測量
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○
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Zeta電位適用粒度范圍
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○
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1nm～100μm
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電導率范圍
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○
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0-30S/m
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電泳遷移率范圍
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○
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10-11～10-7m2/V.s
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電極
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○
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開放式永久型電極
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系
統
參
數
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溫控范圍與精度
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－5～110℃，±0.1℃，（溫控范圍可根據客戶要求定制）
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激光源
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40mW光泵半導體激光器( 激光器波長和功率可定制 )
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檢測器
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APD或PMT
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分析軟件
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Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
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大小及重量
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233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg
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選
件
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BI-ZTU自動滴定儀
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可對PH值、電導率和添加劑濃度作圖
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BI-870介電常數儀
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直接測量溶劑的介電常數值
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BI-SV10粘度計
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用于測量溶劑及溶液的粘度
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●代表“有” ○代表“無”
典型應用
1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
2.脂質體、外切酶體及其他生物膠體
3.多糖、藥物制備
4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
5.油包水、水包油體系
6.涂料、顏料、油漆、油墨、調色劑
7.食品、化妝品配方
8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
應用案例
不同粒徑對Zeta電位等電點的影響 不同官能團配比對等電點的影響 Zeta電位值與細胞吸收度的關系
通過調整顆粒的粒徑或正負電荷官能團的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細胞吸收度有著重大影響。（數據摘自JACS） |
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