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粒度及Zeta電位測量
Omni(新產品)
90Plus PALS
90Plus Zeta
納米粒度分析儀
173Plus多角度粒度測試儀
90Plus納米/亞微米激光粒度儀
TurboCorr數字相關器(等電點測試儀)
BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀
Zeta電位測量
Zeta電位儀-ZetaPALS高靈敏度
ZetaPlus型Zeta電位儀
BI-870介電常數測定儀
BI-ZTU自動滴定儀
動靜態激光光散射儀
廣角動靜態激光光散射儀
分子量檢測器
BI-MwA多角度激光散射儀
BI-DNDC示差折射儀(dndc測試儀)
粘度/示差檢測器
· 圓盤式離心/沉降粒度儀
產品簡介: BI-DCP是基于經典的離心/沉降原理,通過高精度的數字式電機控制,是分辨率和準確率優越的粒度儀。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。 詳細說明: 工作原理 重力或者離心力使得懸浮在樣品轉盤腔內的顆??梢援a生沉降或離心運動。大顆粒運動較快,小顆粒運動較慢,隨著時間的增加,大小顆粒自然分級并依次通過
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