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  · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產品簡介：     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是一
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